本文標題："礦物顆粒內(nèi)部結構偏光分析圖像顯微鏡"
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礦物顆粒內(nèi)部結構偏光分析圖像顯微鏡
礦石受力后發(fā)生形變的形式，與作用力的大小、持續(xù)時間以
及礦物本身的力學特性等因素有關。
對晶粒內(nèi)部環(huán)帶構造的研究，為我們提供成礦溶液的性質及其變
化的資料，對晶粒內(nèi)部的雙晶、解理以及微斷裂的研究，可以幫
助我們分析礦石形成過程中的機械變形的歷史……等。
礦物顆粒內(nèi)部結構的觀察，除一些強非均質礦物可用偏光法
進行觀察外，一般均須選用一系列的試劑對礦石光片進行結構浸
法蝕后才能進行觀察。
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