本文標(biāo)題："顆粒的形態(tài)比來估算應(yīng)變量顯微分析顯微鏡"
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顆粒的形態(tài)比來估算應(yīng)變量顯微分析顯微鏡
在利用顆粒的形態(tài)比來估算應(yīng)變量時(shí)，必須確定所測
定的對象是在應(yīng)變前的一個(gè)顆粒經(jīng)變形而成的，因此，不
能用測定經(jīng)動(dòng)態(tài)重結(jié)晶可靜態(tài)重結(jié)晶后的新生顆粒的軸比
來代表全巖所受的應(yīng)變，這些新生顆粒的軸比通常小于5
，
它們只記錄了在應(yīng)變過程中其生成全巖所經(jīng)歷的應(yīng)變量，
在絲璉構(gòu)造或單偏光下可辨認(rèn)假單晶輪廓的情況下，
測定石英絲帶的長寬比可以確切地說明初始石英顆粒
所受的總變形量，如果在已普遍受到動(dòng)態(tài)重結(jié)晶的巖劃超
棱巖中，則已很難辨認(rèn)初始石英顆粒變形后的輪廓，這時(shí)
，
常只能利用壓力影或變形的微粒和鋪粒等，才可能得到比
較合理的應(yīng)變量。
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