本文標題："電子衍射來檢視微粒結晶是否表面結構得以再生"

電子衍射來檢視微粒結晶是否表面結構得以再生

被制得很薄的樣品，為大面積結構檢視提供了方便，可以直接

觀測結晶的大小、位錯、晶體取向、雜質和相位的化學性質等特性。

但樣品的致薄工作是帶有破壞性的，所以不適于作表面圖形的檢

視，樣品的制備是比較困難的。對于一定的樣品材料，要看能不

能找到適當的腐蝕劑進行腐蝕。

復制法在制備技術中比較簡單，是將塑料溶于溶劑而成為溶

液，例如聚乙烯或膠棉濟液，涂于樣品表面并使之干固。再在由此

形成的薄膜上蔽覆金屬薄層，如鉑之類，以便取得比薄膜本身所能

獲得的更好的反差效果。

復制法為檢視樣品表面細節提供了新的辦法，一般不會損傷

樣品表面，或者影響其它分析和測試。采用這種方法，相對來說，

比較簡捷，并可用于粗糙的樣品。如果表面有污染的粒子也可隨

薄膜取掉。在這種情況下，可采用電子衍射來檢視微粒。復制的好

處能使那些必須檢視的表面結構得以再生。由于景深遠遠超過一

般光學顯微鏡，所以粗糙的表面結構也易于觀察。復制法的極限分

辨率約在50埃左右，它比掃描電子顯微鏡的極限分辨率好得多。

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