本文標題："孢子高測試溫度后顯微鏡觀察表面微生物是否影響發(fā)展？"
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利用濾膜表面發(fā)芽法測定叢枝菌根菌孢子發(fā)芽，具有簡單快速的優(yōu)點，但是孢子未經消毒，
因此挑取之孢子雖然外觀看似完整。
但在觀察發(fā)芽時，可見這些無法發(fā)芽的孢子均已崩解，另外在較高測試溫度后，顯微鏡觀察濾
膜表面有許多生長旺盛的微生物，可能間接或直接影響孢子發(fā)芽及發(fā)芽管的生長。
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